Maquette d’évaluation de transistors HEMT GaN

Dans le cadre de son projet de recherche technologique en 5e année de Génie Électrique par alternance, Joël HIEBEL a développé et testé une maquette d’évaluation de transistors HEMT GaN sous la direction de M. Jean-Michel HUBE.…

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Projet de recherche technologique : Dataset generation tool

Dhélia El Chater et Alexandre Nestelhut, étudiants en dernière année de Génie Électrique par alternance (FIP) ont eu comme projet de recherche technologique au premier semestre de l’année 2021 – 2022 la création d’un outil de génération de dataset, supervisé…

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